快速溫變?cè)囼?yàn)箱滿足試驗(yàn)方法：

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

2. GB/T 2423.2-2008   第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

3. GJB150.3A－2009            高溫試驗(yàn)方法

4. GJB150.4A－2009             低溫試驗(yàn)方法

5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

7. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量